集積回路地形登録

Entegre devre topografyası tescili korumasıyla, Yarı iletken çip veya silikon çip gibi adlarla anılan ve günümüzün bilgi ve iletişim teknolojisinin temel yapı taşı olan entegre devreler ülkemizde ilk kez 2004 yılında yürürlüğe giren 5147 sayılı Entegre Devre Topografyalarının Korunması Hakkında Kanun (EDTK) ile korunmaya başlanmıştır.

Entegre devre topografyası tescili çoğu zaman patent tescili, faydalı model tescili ile karıştırılmaktadır. Her elektronik devre, entegre devre topografyası tescili koruması ile korunacak algısı vardır genelde halk arasında. Ancak entegre devre topografyası tescili mikroişlemci, mikroçip, entegre devre diye adlandırılan ürünlerin koruması ile ilgilidir. Entegre devre topografyası tescili nin bir tane kriteri vardır. O kriter de “orjinallik” kriteridir. Entegre devre topografyası tescili başvuruları “orjinallik” kriterini sağlamak durumundadır. Entegre devre topografyası tescili için yapılacak başvuruda patent ve faydalı model başvurularında olduğu gibi bir teknik dosyalamanın yapılması gerekmektedir. Bu dosyalama yapılması durumunda da entegre devre topografyası tescili başvurusunda bulunulur. Entegre devre topografyası tescili aynı marka başvurularında ya da faydalı model başvurularında olduğu gibi yayınlanır ve itiraza açılır. Sonrasında da incelemesiz olarak belgeye bağlanır.

Siz de eğer entegre devre topografyası tescili’ne konu bir topografya oluşturduysanız. Hem bu topografyanın patentle mi yoksa entegre devre topografyası tescili ile mi koruması gerektiğinin kararının verilmesi için hem de size bu süreçte tecrübemizle destek vermemiz için bizimle iletişime geçiniz.